冲击试样缺口投影仪CST-50

功能用途
该投影仪是为准确检查冲击试样的V型或U型缺口加工质量而设计开发的专用光学仪器。将加工好的试样缺口放大50倍并投影到观察屏上,与刻在观察屏上的标准图板进行比对,即可快速判定检测的冲击试样缺口加工是否合格;对比直观,操作简单,效率高。是理化试验室的必备专用设备。
技术参数
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投影屏 200×200mm
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放大倍率 50X
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光源 12V 100W(卤钨灯)
(以上参数仅供参考,详细参数以真实设备为主)
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